关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

生产过程中常说的统计控制状态是指（ ）。

A.统计控制状态，是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态

B.控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握

C.通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99．73％的产品是合格品

D.在控制状态下生产的不合格品少，生产最经济

E.统计控制状态是指过程中只有异常因素的状态

根据上述计算结果，判断过程（ ）。

A.处于统计控制状态和技术控制状态

B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态

C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态

D.未处于统计控制状态和技术控制状态

分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。

A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态

B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态

C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态

D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。

A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

关于统计推断，下面说法正确的是

关于统计过程控制的说法，正确的有（ ）。

A.统计过程控制是一种过程质量管理技术

B.统计过程控制是指利用控制图对过程进行实时监控，使过程稳定地处于可接受的水平

C.统计过程控制是一种事后补救的方法

D.统计过程控制所使用的主要工具是控制图

E.统计过程控制的主要目的是确定是否生产出不合格品

关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。

A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态

B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态

C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态

D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，

E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为( )。

A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态

B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到，技术控制状态达到

C．状态Ⅲ：统计控制状态达到，技术控制状态未达到

D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态

E．状态Ⅴ：统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到

关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。

A.只有在过程处于统计控制状态才能计算

B.Cp仅能用于双侧规范限的情况

C.Cpk可以反映过程中心的偏移

D.一般来说，Cpk不大于Cp

E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可

过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态称为( )。

A．会计控制状态

B．会计与统计控制状态

C．统计控制状态

D．会计或统计控制状态